G. H. Rieke et al. 2004 ApJS 154 25 doi:10.1086/422717
G. H. Rieke1, E. T. Young1, C. W. Engelbracht1, D. M. Kelly1, F. J. Low1, E. E. Haller2, J. W. Beeman2, K. D. Gordon1, J. A. Stansberry1, K. A. Misselt1, J. Cadien1, J. E. Morrison1, G. Rivlis3, W. B. Latter3, A. Noriega-Crespo3, D. L. Padgett3, K. R. Stapelfeldt3, D. C. Hines4, E. Egami1, J. Muzerolle1, A. Alonso-Herrero1, M. Blaylock1, H. Dole5, J. L. Hinz1, E. Le Floc'h1, C. Papovich1, P. G. Pérez-González1, P. S. Smith1, K. Y. L. Su1, L. Bennett3, D. T. Frayer3, D. Henderson3, N. Lu3, F. Masci3, M. Pesenson3, L. Rebull3, J. Rho3, J. Keene3, S. Stolovy3, S. Wachter3, W. Wheaton3, M. W. Werner3 and P. L. Richards6
Show affiliations
G. H. Rieke et al. 2004 ApJS 154 25
C J Armistead et al 1989 Semicond. Sci. Technol. 4 557
Darrell H Reneker and Iksoo Chun 1996 Nanotechnology 7 216
E W Gaylord and W Forstall 1955 Br. J. Appl. Phys. 6 135
W J Munro et al 2005 New J. Phys. 7 137
Sheng-Jui Chen et al 2006 J. Phys.: Conf. Ser. 32 244
I. Shlimak et al 2008 EPL 82 47001
N. Menci et al. 2005 ApJ 632 49
Emmanuel Frécon and Mårten Stenius 1998 Distrib. Syst. Engng. 5 91
Jaroslav Mackerle 2004 Modelling Simul. Mater. Sci. Eng. 12 799