C. L. Kuo et al. 2004 ApJ 600 32 doi:10.1086/379783
C. L. Kuo1,2, P. A. R. Ade3, J. J. Bock4, C. Cantalupo5, M. D. Daub1, J. Goldstein6,7, W. L. Holzapfel1, A. E. Lange8, M. Lueker1, M. Newcomb1, J. B. Peterson9, J. Ruhl6, M. C. Runyan8 and E. Torbet7
Show affiliations
C. L. Kuo et al. 2004 ApJ 600 32
John Moreland 2003 J. Phys. D: Appl. Phys. 36 R39
Jonathan Leach and Miles Padgett 2003 New J. Phys. 5 154
David W Ward et al 2005 New J. Phys. 7 213
Saralees Nadarajah 2006 Metrologia 43 L21
L Holland and G Siddall 1958 Br. J. Appl. Phys. 9 359
W B Mori et al 2005 J. Phys.: Conf. Ser. 16 184
Mohsen Dadashpour et al 2009 J. Geophys. Eng. 6 325
Zhu Xikai et al 2004 J. Phys.: Conf. Ser. 2 65
M. Sullivan et al. 2004 ApJS 155 1